Contamination and ESD control in high-technology manufacturing
Na minha lista:
| Autor principal: | Welker, Roger W |
|---|---|
| Formato: | Sách |
| Idioma: | Undetermined |
| Publicado em: |
John Wiley & Sons
2006
|
| Assuntos: | |
| Tags: |
Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Thư viện - Trường Đại học Công nghiệp TP. Hồ Chí Minh |
|---|
Registos relacionados
-
Contamination and ESD control in high-technology manufacturing
Por: Welker, Roger W.
Publicado em: (2006) -
ESD.
Por: Voldman, Steven H.
Publicado em: (2015) -
Contamination analysis and control
Por: Dwyer, James L.
Publicado em: (1966) -
ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
Por: Semenov, Oleg, et al.
Publicado em: (2020) -
Quality criteria for ESD-Schools :
Por: Breiting, Soren
Publicado em: (2005)