Contamination and ESD control in high-technology manufacturing
Uloženo v:
| Hlavní autor: | Welker, Roger W |
|---|---|
| Médium: | Sách |
| Jazyk: | Undetermined |
| Vydáno: |
John Wiley & Sons
2006
|
| Témata: | |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Thư viện - Trường Đại học Công nghiệp TP. Hồ Chí Minh |
|---|
Podobné jednotky
-
Contamination and ESD control in high-technology manufacturing
Autor: Welker, Roger W.
Vydáno: (2006) -
ESD.
Autor: Voldman, Steven H.
Vydáno: (2015) -
Contamination analysis and control
Autor: Dwyer, James L.
Vydáno: (1966) -
ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
Autor: Semenov, Oleg, a další
Vydáno: (2020) -
Quality criteria for ESD-Schools :
Autor: Breiting, Soren
Vydáno: (2005)