Full-field strain measurement of solder joints by using digital image correlation method
שמור ב:
| שפה: | vie |
|---|---|
| גישה מקוונת: | https://dlib.udn.vn/module/chi-tiet-sach?RecordID=9604 |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Công nghệ thông tin và Học liệu số, Đại học Đà Nẵng |
|---|
פריטים דומים
-
Solder Joint Reliability Prediction for Multiple Environments
מאת: Perkins, Andrew E., et al.
יצא לאור: (2020) -
Electromigration and thermomigration in pb-free flip-chip solder joints /
מאת: Chen, Chih. -
Advancements in Optical Methods & Digital Image Correlation in Experimental Mechanics, Volume 3
מאת: Lin, Ming-Tzer, et al.
יצא לאור: (2020) -
Image Correlation for Shape, Motion and Deformation Measurements
מאת: Sutton, Michael A., et al.
יצא לאור: (2020) -
Subcellular dynamics and protein conformation fluctuations measured by fourier imaging correlation spectroscopy /
מאת: Senning, Eric N.