Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems. 1st ed. 2017
Đã lưu trong:
Những tác giả chính: | Murakami, Youichi, Ishihara, Sumio |
---|---|
Định dạng: | Sách |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
Springer Berlin Heidelberg
2020
|
Những chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | http://doi.org/10.1007/978-3-662-53227-0 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/101955 |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Những quyển sách tương tự
-
Nanoscale AFM and TEM Observations of Elementary Dislocation Mechanisms. 1st ed. 2017
Bỡi: Veselý, Jozef
Được phát hành: (2020) -
Magnetic Resonance of Semiconductors and Their Nanostructures. 1st ed. 2017
Bỡi: Baranov, Pavel G., et al.
Được phát hành: (2020) -
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. 4th ed.
Bỡi: Goldstein, Joseph I., et al.
Được phát hành: (2020) -
Designing of Elastomer Nanocomposites: From Theory to Applications. 1st ed. 2017
Bỡi: Stöckelhuber, Klaus Werner, et al.
Được phát hành: (2020) -
Solid-State Physics. 4th ed.
Bỡi: Ibach, Harald, et al.
Được phát hành: (2020)