Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems. 1st ed. 2017
Αποθηκεύτηκε σε:
Κύριοι συγγραφείς: | Murakami, Youichi, Ishihara, Sumio |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Springer Berlin Heidelberg
2020
|
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | http://doi.org/10.1007/978-3-662-53227-0 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/101955 |
Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Παρόμοια τεκμήρια
-
Nanoscale AFM and TEM Observations of Elementary Dislocation Mechanisms. 1st ed. 2017
ανά: Veselý, Jozef
Έκδοση: (2020) -
Magnetic Resonance of Semiconductors and Their Nanostructures. 1st ed. 2017
ανά: Baranov, Pavel G., κ.ά.
Έκδοση: (2020) -
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. 4th ed.
ανά: Goldstein, Joseph I., κ.ά.
Έκδοση: (2020) -
Designing of Elastomer Nanocomposites: From Theory to Applications. 1st ed. 2017
ανά: Stöckelhuber, Klaus Werner, κ.ά.
Έκδοση: (2020) -
Solid-State Physics. 4th ed.
ανά: Ibach, Harald, κ.ά.
Έκδοση: (2020)