Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems. 1st ed. 2017
Tallennettuna:
Päätekijät: | Murakami, Youichi, Ishihara, Sumio |
---|---|
Aineistotyyppi: | Kirja |
Kieli: | English |
Julkaistu: |
Springer Berlin Heidelberg
2020
|
Aiheet: | |
Linkit: | http://doi.org/10.1007/978-3-662-53227-0 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/101955 |
Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Samankaltaisia teoksia
-
Nanoscale AFM and TEM Observations of Elementary Dislocation Mechanisms. 1st ed. 2017
Tekijä: Veselý, Jozef
Julkaistu: (2020) -
Magnetic Resonance of Semiconductors and Their Nanostructures. 1st ed. 2017
Tekijä: Baranov, Pavel G., et al.
Julkaistu: (2020) -
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. 4th ed.
Tekijä: Goldstein, Joseph I., et al.
Julkaistu: (2020) -
Designing of Elastomer Nanocomposites: From Theory to Applications. 1st ed. 2017
Tekijä: Stöckelhuber, Klaus Werner, et al.
Julkaistu: (2020) -
Solid-State Physics. 4th ed.
Tekijä: Ibach, Harald, et al.
Julkaistu: (2020)