Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018
Shranjeno v:
Những tác giả chính: | Brodusch, Nicolas, Demers, Hendrix, Gauvin, Raynald |
---|---|
Format: | Knjiga |
Jezik: | English |
Izdano: |
Springer Singapore
2020
|
Teme: | |
Online dostop: | http://doi.org/10.1007/978-981-10-4433-5 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/102700 |
Oznake: |
Označite
Brez oznak, prvi označite!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Podobne knjige/članki
-
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. 4th ed.
od: Goldstein, Joseph I., et al.
Izdano: (2020) -
Springer Handbook of Microscopy. 1st ed. 2019
od: Hawkes, Peter W., et al.
Izdano: (2020) -
Advanced Computing in Electron Microscopy
od: Kirkland, Earl J.
Izdano: (2020) -
Transmission Electron Microscopy. 2nd ed.
od: Williams, David B., et al.
Izdano: (2020) -
Noncontact Atomic Force Microscopy
od: Morita, Seizo, et al.
Izdano: (2020)