Springer Handbook of Microscopy. 1st ed. 2019
Đã lưu trong:
Những tác giả chính: | Hawkes, Peter W., Spence, John C.H. |
---|---|
Định dạng: | Sách |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
Springer International Publishing
2020
|
Những chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | https://doi.org/10.1007/978-3-030-00069-1 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/103566 |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Những quyển sách tương tự
Những quyển sách tương tự
-
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. 4th ed.
Bỡi: Goldstein, Joseph I., et al.
Được phát hành: (2020) -
Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018
Bỡi: Brodusch, Nicolas, et al.
Được phát hành: (2020) -
XAFS Techniques for Catalysts, Nanomaterials, and Surfaces. 1st ed. 2017
Bỡi: Iwasawa, Yasuhiro, et al.
Được phát hành: (2020) -
Advanced Computing in Electron Microscopy
Bỡi: Kirkland, Earl J.
Được phát hành: (2020) -
3rd International Multidisciplinary Microscopy and Microanalysis Congress (InterM). 1st ed. 2017
Bỡi: Oral, Ahmet Yavuz, et al.
Được phát hành: (2020)