Đánh giá sự tồn tại oxygen xen kẽ trong vật liệu nhiệt điện CuCr1-xMgxO2 [0,00 ≤ X ≤ 0,30] dựa trên phép phân tích phổ quang điện tử tia X [XPS]
Enregistré dans:
Auteurs principaux: | Hoàng, Văn Dũng, Phạm, Thanh Tuấn Anh, Lê, Nguyễn Bảo Thư, Nguyễn, Hữu Trương, Phan, Bách Thắng, Trần, Cao Vinh |
---|---|
Format: | Article |
Langue: | Vietnamese |
Publié: |
2023
|
Sujets: | |
Accès en ligne: | https://sti.vista.gov.vn/tw/Pages/tai-lieu-khcn.aspx?ItemID=321753 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/165098 |
Tags: |
Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Documents similaires
- Electrochemical performance of layered Li[Li0.15Ni0.275-xMgxMn0.575]O2 cathode materials for lithium secondary batteries /
-
ẢNH HƯỞNG CỦA VIỆC THAY THẾ MG CHO SR LÊN TÍNH CHẤT TỪ CỦA La0.7Sr0.3-xMgxMnO3
par: Nguyễn, Tuấn Phương, et autres
Publié: (2024) - Characterization of the Mn-Li ferrite system Li1-0.5xFe1.5x+1Mn1-xO4 (0.2 <= x <= 1) /
-
Stylistics (0 415 09769 X)
par: RICHARD BRADFORD
Publié: (1997) -
Discourse (0 415 11053 X)
par: SARA MILLS
Publié: (1997)