Nghiên cứu về Ft và Fmax trong Si và Si1-xGex dựa trên vật liệu đơn và đôi theo kênh của kép FETs cho các ứng dụng RF

Nghiên cứu về Ft và Fmax trong Si và Si1-xGex dựa trên vật liệu đơn và đôi theo kênh của kép FETs cho các ứng dụng RF

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Định dạng: Bài viết
Ngôn ngữ:Vietnamese
Được phát hành: 2024
Những chủ đề:
Nanoscience and Nanotechnology
Truy cập trực tuyến:https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/229938
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
id oai:scholar.dlu.edu.vn:DLU123456789-229938
record_format dspace
spelling oai:scholar.dlu.edu.vn:DLU123456789-2299382024-09-02T09:29:41Z Nghiên cứu về Ft và Fmax trong Si và Si1-xGex dựa trên vật liệu đơn và đôi theo kênh của kép FETs cho các ứng dụng RF Nanoscience and Nanotechnology 2024-09-02T06:23:07Z 2024-09-02T06:23:07Z 2016 Article https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/229938 vi Nanoscience and Nanotechnology - 2016 - no.2 - tr.1-7 - ISSN.2043-6262 application/pdf
institution Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
collection Thư viện số
language Vietnamese
topic Nanoscience and Nanotechnology
spellingShingle Nanoscience and Nanotechnology
Nghiên cứu về Ft và Fmax trong Si và Si1-xGex dựa trên vật liệu đơn và đôi theo kênh của kép FETs cho các ứng dụng RF
format Article
title Nghiên cứu về Ft và Fmax trong Si và Si1-xGex dựa trên vật liệu đơn và đôi theo kênh của kép FETs cho các ứng dụng RF
title_short Nghiên cứu về Ft và Fmax trong Si và Si1-xGex dựa trên vật liệu đơn và đôi theo kênh của kép FETs cho các ứng dụng RF
title_full Nghiên cứu về Ft và Fmax trong Si và Si1-xGex dựa trên vật liệu đơn và đôi theo kênh của kép FETs cho các ứng dụng RF
title_fullStr Nghiên cứu về Ft và Fmax trong Si và Si1-xGex dựa trên vật liệu đơn và đôi theo kênh của kép FETs cho các ứng dụng RF
title_full_unstemmed Nghiên cứu về Ft và Fmax trong Si và Si1-xGex dựa trên vật liệu đơn và đôi theo kênh của kép FETs cho các ứng dụng RF
title_sort nghiên cứu về ft và fmax trong si và si1-xgex dựa trên vật liệu đơn và đôi theo kênh của kép fets cho các ứng dụng rf
publishDate 2024
url https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/229938
_version_ 1811779645250469888

Những quyển sách tương tự