Nghiên cứu về Ft và Fmax trong Si và Si1-xGex dựa trên vật liệu đơn và đôi theo kênh của kép FETs cho các ứng dụng RF
Αποθηκεύτηκε σε:
| Μορφή: | Άρθρο |
|---|---|
| Γλώσσα: | Vietnamese |
| Έκδοση: |
2024
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/229938 |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
καταχωρήστε σχόλιο πρώτοι!