Nghiên cứu về Ft và Fmax trong Si và Si1-xGex dựa trên vật liệu đơn và đôi theo kênh của kép FETs cho các ứng dụng RF

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Artikel
Sprache:Vietnamese
Veröffentlicht: 2024
Schlagworte:
Online Zugang:https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/229938
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt