Nghiên cứu về Ft và Fmax trong Si và Si1-xGex dựa trên vật liệu đơn và đôi theo kênh của kép FETs cho các ứng dụng RF
Gardado en:
Formato: | Artigo |
---|---|
Idioma: | Vietnamese |
Publicado: |
2024
|
Những chủ đề: | |
Acceso en liña: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/229938 |
Các nhãn: |
Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|