Nghiên cứu về Ft và Fmax trong Si và Si1-xGex dựa trên vật liệu đơn và đôi theo kênh của kép FETs cho các ứng dụng RF

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Formato: Artigo
Idioma:Vietnamese
Publicado: 2024
Những chủ đề:
Acceso en liña:https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/229938
Các nhãn: Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt