Nghiên cứu về Ft và Fmax trong Si và Si1-xGex dựa trên vật liệu đơn và đôi theo kênh của kép FETs cho các ứng dụng RF

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Format: Artykuł
Język:Vietnamese
Wydane: 2024
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/229938
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt