Nghiên cứu về Ft và Fmax trong Si và Si1-xGex dựa trên vật liệu đơn và đôi theo kênh của kép FETs cho các ứng dụng RF

Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Format: Bài viết
Jezik:Vietnamese
Izdano: 2024
Teme:
Online dostop:https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/229938
Oznake: Označite
Brez oznak, prvi označite!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt