Characterization in Silicon Processing
Đã lưu trong:
Tác giả chính: | Strausser, Yale |
---|---|
Định dạng: | Sách |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
Butterworth-Heinemann
2011
|
Những chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | http://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/25087 |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Những quyển sách tương tự
-
Silicon Analog Components:
Device Design, Process Integration, Characterization, and Reliability
Bỡi: El-Kareh, Badih, et al.
Được phát hành: (2016) -
Silicon Devices and Process Integration
Bỡi: El-Kareh, Badih
Được phát hành: (2020) -
Silicon-Containing Polymers
Bỡi: Jones, Richard G., et al.
Được phát hành: (2011) -
Liquid Silicone Rubber - Chemistry, Materials, and Processing
Bỡi: Fink
Được phát hành: (2020) -
Fabrication and characterization of silicon probe tip for vertical probe card using MEMS technology /
Bỡi: Kim, Young-Min.