Testing Complex and Embedded Systems

Presenting combinatorial approaches for improving test coverage, Testing Complex and Embedded Systems details techniques to help you streamline testing and identify problems before they occur—including turbocharged testing using Six Sigma and exploratory testing methods. Rather than present the cont...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Pries, Kim H., Quigley, Jon M.
Định dạng: Sách
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: CRC Press 2012
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:http://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/30141
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Những quyển sách tương tự