Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology

This book covers the closely related techniques of electron microprobe analysis (EMPA) and scanning electron microscopy (SEM) specifically from a geological viewpoint.

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Reed, S. J. B.
פורמט: ספר
שפה:English
יצא לאור: Cambridge University Press 2012
נושאים:
גישה מקוונת:https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/30207
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt