Nghiên cứu quan hệ chế độ làm sạch và độ bền bám các màng bảo vệ
Using the Strickness - Instrument QH3 and on physical Base of Clining in low Vakuum to study the Solid - Strickness of the thin Films MgF2; SiO with optical Thickness n1. d=λ/4; 3λ/4 ; 5λ/4;... on Surfaces of optical Elements.
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | , |
|---|---|
| বিন্যাস: | প্রবন্ধ |
| ভাষা: | Vietnamese |
| প্রকাশিত: |
Hà Nội
2013
|
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/34012 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
প্রথমজন হিসাবে মন্তব্য করুন!