Nghiên cứu quan hệ chế độ làm sạch và độ bền bám các màng bảo vệ
Using the Strickness - Instrument QH3 and on physical Base of Clining in low Vakuum to study the Solid - Strickness of the thin Films MgF2; SiO with optical Thickness n1. d=λ/4; 3λ/4 ; 5λ/4;... on Surfaces of optical Elements.
Guardat en:
| Autors principals: | , |
|---|---|
| Format: | Article |
| Idioma: | Vietnamese |
| Publicat: |
Hà Nội
2013
|
| Accés en línia: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/34012 |
| Etiquetes: |
Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Sigues el primer a deixar un comentari!