Nghiên cứu quan hệ chế độ làm sạch và độ bền bám các màng bảo vệ
Using the Strickness - Instrument QH3 and on physical Base of Clining in low Vakuum to study the Solid - Strickness of the thin Films MgF2; SiO with optical Thickness n1. d=λ/4; 3λ/4 ; 5λ/4;... on Surfaces of optical Elements.
Guardado en:
| Autores principales: | , |
|---|---|
| Formato: | Artículo |
| Lenguaje: | Vietnamese |
| Publicado: |
Hà Nội
2013
|
| Acceso en línea: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/34012 |
| Etiquetas: |
Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Sea el primero en dejar un comentario!