Nghiên cứu quan hệ chế độ làm sạch và độ bền bám các màng bảo vệ
Using the Strickness - Instrument QH3 and on physical Base of Clining in low Vakuum to study the Solid - Strickness of the thin Films MgF2; SiO with optical Thickness n1. d=λ/4; 3λ/4 ; 5λ/4;... on Surfaces of optical Elements.
Zapisane w:
Główni autorzy: | , |
---|---|
Format: | Artykuł |
Język: | Vietnamese |
Wydane: |
Hà Nội
2013
|
Dostęp online: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/34012 |
Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Napisz pierwszy komentarz!