Nghiên cứu quan hệ chế độ làm sạch và độ bền bám các màng bảo vệ

Using the Strickness - Instrument QH3 and on physical Base of Clining in low Vakuum to study the Solid - Strickness of the thin Films MgF2; SiO with optical Thickness n1. d=λ/4; 3λ/4 ; 5λ/4;... on Surfaces of optical Elements.

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar: Trần, Đình Tường, Nguyễn, Anh Tuấn
Materyal Türü: Makale
Dil:Vietnamese
Baskı/Yayın Bilgisi: Hà Nội 2013
Online Erişim:https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/34012
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt