Nghiên cứu quan hệ chế độ làm sạch và độ bền bám các màng bảo vệ

Using the Strickness - Instrument QH3 and on physical Base of Clining in low Vakuum to study the Solid - Strickness of the thin Films MgF2; SiO with optical Thickness n1. d=λ/4; 3λ/4 ; 5λ/4;... on Surfaces of optical Elements.

Wedi'i Gadw mewn:
Manylion Llyfryddiaeth
Prif Awduron: Trần, Đình Tường, Nguyễn, Anh Tuấn
Fformat: Erthygl
Iaith:Vietnamese
Cyhoeddwyd: Hà Nội 2013
Mynediad Ar-lein:https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/34012
Tagiau: Ychwanegu Tag
Dim Tagiau, Byddwch y cyntaf i dagio'r cofnod hwn!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt