Nghiên cứu quan hệ chế độ làm sạch và độ bền bám các màng bảo vệ
Using the Strickness - Instrument QH3 and on physical Base of Clining in low Vakuum to study the Solid - Strickness of the thin Films MgF2; SiO with optical Thickness n1. d=λ/4; 3λ/4 ; 5λ/4;... on Surfaces of optical Elements.
保存先:
| 主要な著者: | , |
|---|---|
| フォーマット: | 論文 |
| 言語: | Vietnamese |
| 出版事項: |
Hà Nội
2013
|
| オンライン･アクセス: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/34012 |
| タグ: |
タグ追加
タグなし, このレコードへの初めてのタグを付けませんか!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|