Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
Đã lưu trong:
Những tác giả chính: | Tan, Cher Ming, He, Feifei |
---|---|
Định dạng: | Sách |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
Springer Singapore
2015
|
Những chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/40677 |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Những quyển sách tương tự
-
Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design
Bỡi: Lienig, Jens, et al.
Được phát hành: (2020) -
Fundamentals of Layout Design for Electronic Circuits. 1st ed.
Bỡi: Lienig, Jens, et al.
Được phát hành: (2020) -
Dynamic Modeling of Complex Industrial Processes: Data-driven Methods and Application Research
Bỡi: Shang, Chao
Được phát hành: (2020) -
ICICCT 2019 – System Reliability, Quality Control, Safety, Maintenance and Management
Bỡi: Gunjan, Vinit Kumar, et al.
Được phát hành: (2020) -
Dependable Multicore Architectures at Nanoscale. 1st ed. 2018
Bỡi: Ottavi, Marco, et al.
Được phát hành: (2020)