CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective
CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective is a single source for an integrated view of test and data analysis methodology for CMOS products, covering circuit sensitivities to MOSFET characteristics, impact of silicon technology process variability, applications of embedded test structures and...
Đã lưu trong:
Những tác giả chính: | Bhushan, Manjul, Ketchen, Mark B |
---|---|
Định dạng: | Sách |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
Springer
2016
|
Những chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/59909 |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Những quyển sách tương tự
-
Nanometer CMOS ICs
Bỡi: Veendrick, Harry J.M.
Được phát hành: (2020) -
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Bỡi: Sachdev, Manoj, et al.
Được phát hành: (2020) -
Structured Analog CMOS Design
Bỡi: Stefanovic, Danica, et al.
Được phát hành: (2020) -
Design of CMOS Analog Integrated Fractional-Order Circuits
Bỡi: Tsirimokou, Georgia, et al.
Được phát hành: (2020) -
5G and E-Band Communication Circuits in Deep-Scaled CMOS
Bỡi: Vigilante, Marco, et al.
Được phát hành: (2020)