Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
This book provides readers with a variety of tools to address the challenges posed by hot carrier degradation, one of today’s most complicated reliability issues in semiconductor devices. Coverage includes an explanation of carrier transport within devices and book-keeping of how they acquire energ...
Đã lưu trong:
Tác giả chính: | Grasser, Tibor |
---|---|
Định dạng: | Sách |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
Springer
2016
|
Những chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/59934 |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Những quyển sách tương tự
-
Semiconductor devices :
Bỡi: Sze, S. M.
Được phát hành: (2002) -
Introduction to semiconductor devices
Bỡi: Morant, M. J.
Được phát hành: (1970) -
Physics of semiconductor devices
Bỡi: Sze, S. M.
Được phát hành: (1981) -
An introduction to the physics of semiconductor devices
Bỡi: David J. Roulston
Được phát hành: (1999) -
Fundamentals semiconductor devices
Bỡi: Anderson, Betty Lise
Được phát hành: (2005)