Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices

This book provides readers with a variety of tools to address the challenges posed by hot carrier degradation, one of today’s most complicated reliability issues in semiconductor devices. Coverage includes an explanation of carrier transport within devices and book-keeping of how they acquire energ...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Grasser, Tibor
Định dạng: Sách
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Springer 2016
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/59934
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Những quyển sách tương tự