Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Đã lưu trong:

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:	Sachdev, Manoj, Gyvez, José Pineda de
Định dạng:	Sách
Ngôn ngữ:	English
Được phát hành:	Springer US 2020
Những chủ đề:	Engineering Circuits and Systems Electrical Engineering
Truy cập trực tuyến:	https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/82119
Các nhãn:	Thêm thẻ Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

id	oai:scholar.dlu.edu.vn:DLU123456789-82119
record_format	dspace
spelling	oai:scholar.dlu.edu.vn:DLU123456789-821192023-10-06T02:14:10Z Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits Sachdev, Manoj Gyvez, José Pineda de Engineering Circuits and Systems Electrical Engineering 2020-02-20T02:12:01Z 2020-02-20T02:12:01Z 2007 Book 978-0-387-46546-3 978-0-387-46547-0 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/82119 en Frontiers in Electronic Testing Springer-Verlag US application/pdf Springer US
institution	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
collection	Thư viện số
language	English
topic	Engineering Circuits and Systems Electrical Engineering
spellingShingle	Engineering Circuits and Systems Electrical Engineering Sachdev, Manoj Gyvez, José Pineda de Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
format	Book
author	Sachdev, Manoj Gyvez, José Pineda de
author_facet	Sachdev, Manoj Gyvez, José Pineda de
author_sort	Sachdev, Manoj
title	Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
title_short	Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
title_full	Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
title_fullStr	Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
title_full_unstemmed	Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
title_sort	defect-oriented testing for nano-metric cmos vlsi circuits
publisher	Springer US
publishDate	2020
url	https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/82119
_version_	1819848933689524224

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Những quyển sách tương tự