Data Mining and Diagnosing IC Fails
Đã lưu trong:
| Tác giả chính: | |
|---|---|
| Định dạng: | Sách |
| Ngôn ngữ: | English |
| Được phát hành: |
Springer US
2020
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | http://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/84992 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
| id |
oai:scholar.dlu.edu.vn:DLU123456789-84992 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
oai:scholar.dlu.edu.vn:DLU123456789-849922020-02-24T10:21:39Z Data Mining and Diagnosing IC Fails Huisman, Leendert M. Engineering Circuits and Systems Electronics and Microelectronics, Instrumentation 2020-02-24T10:21:39Z 2020-02-24T10:21:39Z 2005 Book 978-0-387-24993-3 978-0-387-26351-9 http://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/84992 en Frontiers in Electronic Testing Springer-Verlag US application/pdf Springer US |
| institution |
Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
| collection |
Thư viện số |
| language |
English |
| topic |
Engineering Circuits and Systems Electronics and Microelectronics, Instrumentation |
| spellingShingle |
Engineering Circuits and Systems Electronics and Microelectronics, Instrumentation Huisman, Leendert M. Data Mining and Diagnosing IC Fails |
| format |
Book |
| author |
Huisman, Leendert M. |
| author_facet |
Huisman, Leendert M. |
| author_sort |
Huisman, Leendert M. |
| title |
Data Mining and Diagnosing IC Fails |
| title_short |
Data Mining and Diagnosing IC Fails |
| title_full |
Data Mining and Diagnosing IC Fails |
| title_fullStr |
Data Mining and Diagnosing IC Fails |
| title_full_unstemmed |
Data Mining and Diagnosing IC Fails |
| title_sort |
data mining and diagnosing ic fails |
| publisher |
Springer US |
| publishDate |
2020 |
| url |
http://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/84992 |
| _version_ |
1757671823318712320 |