Data Mining and Diagnosing IC Fails
Đã lưu trong:
Tác giả chính: | Huisman, Leendert M. |
---|---|
Định dạng: | Sách |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
Springer US
2020
|
Những chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | http://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/84992 |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Những quyển sách tương tự
-
Nanometer CMOS ICs
Bỡi: Veendrick, Harry J.M.
Được phát hành: (2020) -
Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies. 1st ed.
Bỡi: Canelas, António Manuel Lourenço, et al.
Được phát hành: (2020) -
Automatic Analog IC Sizing and Optimization Constrained with PVT Corners and Layout Effects
Bỡi: Lourenço, Nuno, et al.
Được phát hành: (2020) -
Wireless Power Transfer and Data Communication for Intracranial Neural Recording Applications
Bỡi: Türe, Kerim, et al.
Được phát hành: (2020) -
Wireless Power Transfer and Data Communication for Neural Implants
Bỡi: Yilmaz, Gürkan, et al.
Được phát hành: (2020)