Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design
সংরক্ষণ করুন:
প্রধান লেখক: | Lienig, Jens, Thiele, Matthias |
---|---|
বিন্যাস: | গ্রন্থ |
ভাষা: | English |
প্রকাশিত: |
Springer International Publishing
2020
|
বিষয়গুলি: | |
অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/86154 |
ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
Fundamentals of Layout Design for Electronic Circuits. 1st ed.
অনুযায়ী: Lienig, Jens, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020) -
Electromigration Inside Logic Cells
অনুযায়ী: Posser, Gracieli, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020) -
Design of CMOS Analog Integrated Fractional-Order Circuits
অনুযায়ী: Tsirimokou, Georgia, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020) -
Parasitic Substrate Coupling in High Voltage Integrated Circuits
অনুযায়ী: Buccella, Pietro, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020) -
VLSI Design: Circuits, Systems and Applications
অনুযায়ী: Li, Jie, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020)