Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design
Đã lưu trong:
Những tác giả chính: | Lienig, Jens, Thiele, Matthias |
---|---|
Format: | Bog |
Sprog: | English |
Udgivet: |
Springer International Publishing
2020
|
Fag: | |
Online adgang: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/86154 |
Tags: |
Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Lignende værker
-
Fundamentals of Layout Design for Electronic Circuits. 1st ed.
af: Lienig, Jens, et al.
Udgivet: (2020) -
Electromigration Inside Logic Cells
af: Posser, Gracieli, et al.
Udgivet: (2020) -
Design of CMOS Analog Integrated Fractional-Order Circuits
af: Tsirimokou, Georgia, et al.
Udgivet: (2020) -
Parasitic Substrate Coupling in High Voltage Integrated Circuits
af: Buccella, Pietro, et al.
Udgivet: (2020) -
VLSI Design: Circuits, Systems and Applications
af: Li, Jie, et al.
Udgivet: (2020)