Advanced Computing in Electron Microscopy
Đã lưu trong:
Tác giả chính: | Kirkland, Earl J. |
---|---|
Định dạng: | Sách |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
Springer International Publishing
2020
|
Những chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | http://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/90772 |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Những quyển sách tương tự
Những quyển sách tương tự
-
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. 4th ed.
Bỡi: Goldstein, Joseph I., et al.
Được phát hành: (2020) -
Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018
Bỡi: Brodusch, Nicolas, et al.
Được phát hành: (2020) -
Springer Handbook of Microscopy. 1st ed. 2019
Bỡi: Hawkes, Peter W., et al.
Được phát hành: (2020) -
Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems. 1st ed. 2017
Bỡi: Murakami, Youichi, et al.
Được phát hành: (2020) -
Nanoscale AFM and TEM Observations of Elementary Dislocation Mechanisms. 1st ed. 2017
Bỡi: Veselý, Jozef
Được phát hành: (2020)