Advanced Computing in Electron Microscopy
সংরক্ষণ করুন:
প্রধান লেখক: | Kirkland, Earl J. |
---|---|
বিন্যাস: | গ্রন্থ |
ভাষা: | English |
প্রকাশিত: |
Springer International Publishing
2020
|
বিষয়গুলি: | |
অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/90772 |
ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. 4th ed.
অনুযায়ী: Goldstein, Joseph I., অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020) -
Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018
অনুযায়ী: Brodusch, Nicolas, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020) -
Springer Handbook of Microscopy. 1st ed. 2019
অনুযায়ী: Hawkes, Peter W., অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020) -
Nanoscale AFM and TEM Observations of Elementary Dislocation Mechanisms. 1st ed. 2017
অনুযায়ী: Veselý, Jozef
প্রকাশিত: (2020) -
Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems. 1st ed. 2017
অনুযায়ী: Murakami, Youichi, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020)