Advanced Computing in Electron Microscopy
Αποθηκεύτηκε σε:
Κύριος συγγραφέας: | Kirkland, Earl J. |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Springer International Publishing
2020
|
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/90772 |
Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Παρόμοια τεκμήρια
-
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. 4th ed.
ανά: Goldstein, Joseph I., κ.ά.
Έκδοση: (2020) -
Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018
ανά: Brodusch, Nicolas, κ.ά.
Έκδοση: (2020) -
Springer Handbook of Microscopy. 1st ed. 2019
ανά: Hawkes, Peter W., κ.ά.
Έκδοση: (2020) -
Nanoscale AFM and TEM Observations of Elementary Dislocation Mechanisms. 1st ed. 2017
ανά: Veselý, Jozef
Έκδοση: (2020) -
Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems. 1st ed. 2017
ανά: Murakami, Youichi, κ.ά.
Έκδοση: (2020)