Transmission Electron Microscopy. 2nd ed.
Uloženo v:
Hlavní autoři: | Williams, David B., Carter, C. Barry |
---|---|
Médium: | Kniha |
Jazyk: | English |
Vydáno: |
Springer US
2020
|
Témata: | |
On-line přístup: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/93826 |
Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Podobné jednotky
-
Transport of Energetic Electrons in Solids. 2nd ed. 2017
Autor: Dapor, Maurizio
Vydáno: (2020) -
Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018
Autor: Brodusch, Nicolas, a další
Vydáno: (2020) -
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. 4th ed.
Autor: Goldstein, Joseph I., a další
Vydáno: (2020) -
Advances in Nanomaterials. 1st ed. 2018
Autor: Balasubramanian, Ganesh
Vydáno: (2020) -
Advanced Computing in Electron Microscopy
Autor: Kirkland, Earl J.
Vydáno: (2020)