XAFS Techniques for Catalysts, Nanomaterials, and Surfaces. 1st ed. 2017
Tallennettuna:
Päätekijät: | Iwasawa, Yasuhiro, Asakura, Kiyotaka, Tada, Mizuki |
---|---|
Aineistotyyppi: | Kirja |
Kieli: | English |
Julkaistu: |
Springer International Publishing
2020
|
Aiheet: | |
Linkit: | http://doi.org/10.1007/978-3-319-43866-5 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/98134 |
Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Samankaltaisia teoksia
-
Springer Handbook of Microscopy. 1st ed. 2019
Tekijä: Hawkes, Peter W., et al.
Julkaistu: (2020) -
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. 4th ed.
Tekijä: Goldstein, Joseph I., et al.
Julkaistu: (2020) -
Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems. 1st ed. 2017
Tekijä: Murakami, Youichi, et al.
Julkaistu: (2020) -
Nanoscale AFM and TEM Observations of Elementary Dislocation Mechanisms. 1st ed. 2017
Tekijä: Veselý, Jozef
Julkaistu: (2020) -
Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018
Tekijä: Brodusch, Nicolas, et al.
Julkaistu: (2020)