Nanoscale AFM and TEM Observations of Elementary Dislocation Mechanisms. 1st ed. 2017
Đã lưu trong:
Tác giả chính: | Veselý, Jozef |
---|---|
Định dạng: | Sách |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
Springer International Publishing
2020
|
Những chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | http://doi.org/10.1007/978-3-319-48302-3 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/98462 |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Những quyển sách tương tự
-
Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems. 1st ed. 2017
Bỡi: Murakami, Youichi, et al.
Được phát hành: (2020) -
Solid-State Physics. 4th ed.
Bỡi: Ibach, Harald, et al.
Được phát hành: (2020) -
Designing of Elastomer Nanocomposites: From Theory to Applications. 1st ed. 2017
Bỡi: Stöckelhuber, Klaus Werner, et al.
Được phát hành: (2020) -
An Introduction to Computational Micromechanics
Bỡi: Zohdi, Tarek I., et al.
Được phát hành: (2020) -
Springer Handbook of Materials Measurement Methods
Bỡi: Czichos, Horst, et al.
Được phát hành: (2020)