Nanoscale AFM and TEM Observations of Elementary Dislocation Mechanisms. 1st ed. 2017
שמור ב:
מחבר ראשי: | Veselý, Jozef |
---|---|
פורמט: | ספר |
שפה: | English |
יצא לאור: |
Springer International Publishing
2020
|
נושאים: | |
גישה מקוונת: | http://doi.org/10.1007/978-3-319-48302-3 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/98462 |
תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
פריטים דומים
-
Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems. 1st ed. 2017
מאת: Murakami, Youichi, et al.
יצא לאור: (2020) -
Solid-State Physics. 4th ed.
מאת: Ibach, Harald, et al.
יצא לאור: (2020) -
Designing of Elastomer Nanocomposites: From Theory to Applications. 1st ed. 2017
מאת: Stöckelhuber, Klaus Werner, et al.
יצא לאור: (2020) -
An Introduction to Computational Micromechanics
מאת: Zohdi, Tarek I., et al.
יצא לאור: (2020) -
Springer Handbook of Materials Measurement Methods
מאת: Czichos, Horst, et al.
יצא לאור: (2020)