Industrial X-Ray Computed Tomography. 1st ed. 2018
שמור ב:
Những tác giả chính: | Carmignato, Simone, Dewulf, Wim, Leach, Richard |
---|---|
פורמט: | ספר |
שפה: | English |
יצא לאור: |
Springer International Publishing
2020
|
נושאים: | |
גישה מקוונת: | http://doi.org/10.1007/978-3-319-59573-3 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/99858 |
תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
פריטים דומים
-
Atomic Particles and Atom Systems
מאת: Smirnov, Boris M.
יצא לאור: (2020) -
X-Ray Diffraction Imaging of Biological Cells
מאת: Nakasako, Masayoshi
יצא לאור: (2020) -
Advancement of Optical Methods in Experimental Mechanics, Volume 3
מאת: Yoshida, Sanichiro, et al.
יצא לאור: (2020) -
Tailored Light 1
מאת: Poprawe, Reinhart, et al.
יצא לאור: (2020) -
Fundamentals of van der Waals and Casimir Interactions
מאת: Sernelius, Bo E.
יצא לאור: (2020)