Defect processes induced by electronic excitation in insulators /

QR code

Defect processes induced by electronic excitation in insulators /

Toon andere (1) versies

Bewaard in:

Bibliografische gegevens
Andere auteurs:	Itoh, Noriaki (edited)
Formaat:	Sách giấy
Gepubliceerd in:	Singapore : World Scientific, 1989.
Reeks:	World scientific series on directions in condensed matter physics. v. 5
Tags:	Voeg label toe Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Gelijkaardige items

Defect processes induced by electronic excitation in insulators /
Gepubliceerd in: (1989)

Defect processes induced by electronic excitation in insulators
Gepubliceerd in: (1989)

Defect processes induced by electronic excitation in insulators.
Gepubliceerd in: (1989)

Concept of highly excited electronic systems
door: Berakdar, Jamal
Gepubliceerd in: (2003)

Electronic and Magnetic Excitations in Correlated and Topological Materials
door: Dyke, John S. Van
Gepubliceerd in: (2020)

Many-Body Approach to Electronic Excitations: Concepts and Applications
door: Bechstedt, Friedhelm
Gepubliceerd in: (2016)

Excitement Processes. 1st ed. 2018
door: Haut, Jan, et al.
Gepubliceerd in: (2020)

Oxide electronics utilizing ultrafast metal-insulator transitions /
door: Yang, Zheng

Flinovia - Flow Induced Noise and Vibration Issues and Aspects: A Focus on Measurement, Modeling, Simulation and Reproduction of the Flow Excitation and Flow Induced Response
door: Ciappi, E, et al.
Gepubliceerd in: (2016)

The (Non-)Local Density of States of Electronic Excitations in Organic Semiconductors. 1st ed. 2018
door: Poelking, Carl. R
Gepubliceerd in: (2020)

Insulation Handbook
door: Richard T Bynum
Gepubliceerd in: (2001)

Insulation handbook
door: Bynum, Richard T
Gepubliceerd in: (2001)

Insulation Handbook
door: Bynum, Richard T.
Gepubliceerd in: (2011)

Point defects in oxides : Tailoring materials through defect engineering/
door: Tuller, Harry L.

Detect defective products and localize defects using U-Net
door: Tran, Ngo Thien Thanh
Gepubliceerd in: (2022)

Exciting Korean : A practice listening guide.
door: Mira Oh
Gepubliceerd in: (1998)

Insulating materials for optoelectronics
Gepubliceerd in: (1995)

Insulating and semiconducting glasses
door: Punit Boolchand

Insulating and semiconducting glasses
door: Boolchand, Punit
Gepubliceerd in: (2000)

Insulating and semiconducting glasses.
Gepubliceerd in: (2000)

Insulating and Semiconducting Glasses
Gepubliceerd in: (2000)

Ionic channels of excitable membranes
door: Hille, Bertil
Gepubliceerd in: (1984)

Defect-free buildings
door: Mann, Robert S.
Gepubliceerd in: (2007)

Crystals, defects and microstructures :
door: Phillips, Robert Brooks
Gepubliceerd in: (2001)

Defects at Oxide Surfaces
door: Jupille, Jacques, et al.
Gepubliceerd in: (2015)

Defect and Material Mechanics
door: Dascalu, C., et al.
Gepubliceerd in: (2020)

Insulating materials for optoelectronics : new developments /
Gepubliceerd in: (1995)

Insulating materials for optoelectronics : new developments /
Gepubliceerd in: (1995)

Electrical insulation for rotating machines :
door: Stone, Greg C.
Gepubliceerd in: (2004)

The excitement of discovery : selected papers of Alexander Rich : a tribute to Alexander Rich
Gepubliceerd in: (2019)

E-development from excitement to effectiveness
Gepubliceerd in: (2005)

Quasiparticle theory of defects in solids
door: Pushkarov, D. I
Gepubliceerd in: (1991)

Quasiparticle theory of defects in solids
door: PuÅ¡karov, D. I
Gepubliceerd in: (1991)

Quasiparticle theory of defects in solids
door: Pushkarov, D. I.
Gepubliceerd in: (1991)

Normal and defective colour vision
door: Mollon, J.D.
Gepubliceerd in: (2003)

Transport, correlation, and structural defects

Transport, correlation, and structural defects /
Gepubliceerd in: (1990)

The defect chemistry of metal oxides /
door: Smyth, Donald Morgan, 1930-
Gepubliceerd in: (2000)

Moisture and Water Resistance of Electrical Insulation /
door: Maslov, V.
Gepubliceerd in: (1979)

Effects of Insulator Dielectric Passivation Layer on the Breakdown Voltage of AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistor
door: Than, Hong Phuc, et al.
Gepubliceerd in: (2022)