Atomic-scale templates patterned by ultrahigh vacuum scanning tunneling microscopy on silicon /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Walsh, Michael A.
Kolejni autorzy: Hersam, Mark C.
Format: Artykuł
Język:English
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt