Atomic-scale templates patterned by ultrahigh vacuum scanning tunneling microscopy on silicon /

Gorde:

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia:	Walsh, Michael A.
Beste egile batzuk:	Hersam, Mark C.
Formatua:	Artikulua
Hizkuntza:	English
Gaiak:	Feedback-controlled lithography Nanoelectronics Nanolithography Surface chemistry
Etiketak:	Etiketa erantsi Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Izan zaitez lehena ohar bat uzten!

Antzeko izenburuak