Atomic-scale templates patterned by ultrahigh vacuum scanning tunneling microscopy on silicon /

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Auteur principal:	Walsh, Michael A.
Autres auteurs:	Hersam, Mark C.
Format:	Article
Langue:	English
Sujets:	Feedback-controlled lithography Nanoelectronics Nanolithography Surface chemistry
Tags:	Ajouter un tag Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

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