Resistive HTS-FCL EMTDC modeling by using probabilistic design methodology /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Yoon, Jae-Young.
Další autoři: Kim, Jong-Yuk., Lee, Seung-Ryul.
Médium: Článek
Jazyk:English
Témata:
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt