Resistive HTS-FCL EMTDC modeling by using probabilistic design methodology /

Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor: Yoon, Jae-Young.
Drugi avtorji: Kim, Jong-Yuk., Lee, Seung-Ryul.
Format: Bài viết
Jezik:English
Teme:
Oznake: Označite
Brez oznak, prvi označite!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt