Resistive HTS-FCL EMTDC modeling by using probabilistic design methodology /

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Yoon, Jae-Young.
Другие авторы: Kim, Jong-Yuk., Lee, Seung-Ryul.
Формат: Статья
Язык:English
Предметы:
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt