Resistive HTS-FCL EMTDC modeling by using probabilistic design methodology /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Yoon, Jae-Young.
Kolejni autorzy: Kim, Jong-Yuk., Lee, Seung-Ryul.
Format: Artykuł
Język:English
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt