Absolute refractive index determination by microinterferometric backscatter detection /
Tallennettuna:
| Muut tekijät: | Andersen, Peter E., Bornhop, Darryl J., Larsen, Niels B., Pranov, Henrik., Sorensen, Henrik Schiott. |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Artikkeli |
| Kieli: | English |
| Aiheet: | |
| Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Samankaltaisia teoksia
- High refractive index thin films of ZnS/polythiourethane nanocomposites /
-
Flipped clasroom learning and initial application in teaching “Refraction of light” in Physics 11, High School Education = Lớp học đảo ngược và bước đầu áp dụng vào giảng dạy “Khúc xạ ánh sáng” Vật lí 11 THPT /
Tekijä: Le Hai My Ngan. -
Nghiên cứu ứng dụng công nghệ laser vision trong phát hiện lỗi bề mặt sản phẩm :
Tekijä: Võ, Phạm Thiên Thảo
Julkaistu: (2018) -
Xây dựng hệ thống phát hiện lỗi và phân loại chất lượng da :
Julkaistu: (2018) -
A Practical Guide to Handling Laser Diode Beams
Tekijä: Sun, Haiyin
Julkaistu: (2016)