Absolute refractive index determination by microinterferometric backscatter detection /
Zapisane w:
| Kolejni autorzy: | Andersen, Peter E., Bornhop, Darryl J., Larsen, Niels B., Pranov, Henrik., Sorensen, Henrik Schiott. |
|---|---|
| Format: | Artykuł |
| Język: | English |
| Hasła przedmiotowe: | |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Podobne zapisy
- High refractive index thin films of ZnS/polythiourethane nanocomposites /
-
Flipped clasroom learning and initial application in teaching “Refraction of light” in Physics 11, High School Education = Lớp học đảo ngược và bước đầu áp dụng vào giảng dạy “Khúc xạ ánh sáng” Vật lí 11 THPT /
od: Le Hai My Ngan. -
Nghiên cứu ứng dụng công nghệ laser vision trong phát hiện lỗi bề mặt sản phẩm :
od: Võ, Phạm Thiên Thảo
Wydane: (2018) -
Xây dựng hệ thống phát hiện lỗi và phân loại chất lượng da :
Wydane: (2018) -
A Practical Guide to Handling Laser Diode Beams
od: Sun, Haiyin
Wydane: (2016)