Radiochemical neutron activation analysis for certification of ion-implanted phosphorus in silicon /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả khác: Guthrie, William F., Lu, John., Paul, Rick L., Simons, David S.
Định dạng: Bài viết
Ngôn ngữ:English
Những chủ đề:
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
LEADER 00981nam a2200325 4500
001 DLU090097243
005 ##20091201
040 # # |a DLU  |b eng 
041 # # |a eng 
044 # # |a us 
245 # # |a Radiochemical neutron activation analysis for certification of ion-implanted phosphorus in silicon /  |c Rick L. Paul ... [et al.].  
653 # # |a Ion implantation 
653 # # |a Neutron activation analysis 
653 # # |a Phosphorus 
653 # # |a Radiochemical analysis 
653 # # |a Silicon 
700 # # |a Guthrie, William F. 
700 # # |a Lu, John.  
700 # # |a Paul, Rick L.  
700 # # |a Simons, David S. 
773 # # |t Analytical Chemistry  |g Vol. 75, no. 16 (August 2003), p. 4028-4033 
920 # # |a Phòng Tạp chí -- Trung tâm Thông tin - Thư viện Trường Đại học Đà Lạt 
994 # # |a DLU 
900 # # |a True 
911 # # |a Trương Bảo Trâm Anh 
925 # # |a G 
926 # # |a A 
927 # # |a BB 
980 # # |a Thư viện Trường Đại học Đà Lạt