Radiochemical neutron activation analysis for certification of ion-implanted phosphorus in silicon /
Đã lưu trong:
Tác giả khác: | Guthrie, William F., Lu, John., Paul, Rick L., Simons, David S. |
---|---|
Định dạng: | Bài viết |
Ngôn ngữ: | English |
Những chủ đề: | |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Những quyển sách tương tự
-
Ion implantation science and technology
Bỡi: Ziegler, J. F.
Được phát hành: (1984) -
The Characteristic Study on the Extraction of a Co Ion in the Metal Ion Implanter
Bỡi: Trịnh, Thị Tú Anh
Được phát hành: (2023) -
CU+ ION EXTRACTION FROM A MODIFIED BERNAS ION SOURCE IN A METAL-ION IMPLANTER
Bỡi: Trịnh, Thị Tú Anh
Được phát hành: (2023) - Development of an internal monostandard instrumental neutron activation analysis method based on in situ detection efficiency for analysis of large and nonstandard geometry samples /
-
Prompt gamma neutron activation analysis
Bỡi: Zeev, B Alfassi, et al.
Được phát hành: (2014)