Radiochemical neutron activation analysis for certification of ion-implanted phosphorus in silicon /
محفوظ في:
| مؤلفون آخرون: | Guthrie, William F., Lu, John., Paul, Rick L., Simons, David S. |
|---|---|
| التنسيق: | مقال |
| اللغة: | English |
| الموضوعات: | |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
مواد مشابهة
-
Ion implantation science and technology
بواسطة: Ziegler, J. F.
منشور في: (1984) -
The Characteristic Study on the Extraction of a Co Ion in the Metal Ion Implanter
بواسطة: Trịnh, Thị Tú Anh
منشور في: (2023) -
CU+ ION EXTRACTION FROM A MODIFIED BERNAS ION SOURCE IN A METAL-ION IMPLANTER
بواسطة: Trịnh, Thị Tú Anh
منشور في: (2023) - Development of an internal monostandard instrumental neutron activation analysis method based on in situ detection efficiency for analysis of large and nonstandard geometry samples /
-
Prompt gamma neutron activation analysis
بواسطة: Zeev, B Alfassi, وآخرون
منشور في: (2014)